发明名称 |
Oberflächenbehandlungsverfahren für Gruppe-III-Nitrid-Halbleiter, Gruppe-III-Nitrid-Halbleiter, Verfahren zum Herstellen desselben sowie Gruppe-III-Nitrid-Halbleiterstruktur |
摘要 |
Geschaffen wird ein Oberflächenbehandlungsverfahren eines Gruppe-III-Nitrid-Halbleiters, das Bereitstellen eines Gruppe-III-Nitrid-Halbleiters, der eine erste Fläche, die eine Gruppe-III-Polarität hat, und eine zweite Oberfläche enthält, die der ersten Oberfläche gegenüberliegt und eine Stickstoff-Polarität hat, und Bestrahlen der zweiten Oberfläche mit einem Laserstrahl einschließt, um die Stickstoff-Polarität der zweiten Oberfläche zu der Gruppe-III-Polarität zu ändern.
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申请公布号 |
DE102009019281(A1) |
申请公布日期 |
2010.04.22 |
申请号 |
DE200910019281 |
申请日期 |
2009.04.28 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO. LTD. |
发明人 |
YANG, JONG IN;LEE, SANG BUM;SONG, SANG YEOB;LEE, SI HYUK;KIM, TAE HYUNG |
分类号 |
H01L21/268;H01L33/00 |
主分类号 |
H01L21/268 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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