发明名称 Oberflächenbehandlungsverfahren für Gruppe-III-Nitrid-Halbleiter, Gruppe-III-Nitrid-Halbleiter, Verfahren zum Herstellen desselben sowie Gruppe-III-Nitrid-Halbleiterstruktur
摘要 Geschaffen wird ein Oberflächenbehandlungsverfahren eines Gruppe-III-Nitrid-Halbleiters, das Bereitstellen eines Gruppe-III-Nitrid-Halbleiters, der eine erste Fläche, die eine Gruppe-III-Polarität hat, und eine zweite Oberfläche enthält, die der ersten Oberfläche gegenüberliegt und eine Stickstoff-Polarität hat, und Bestrahlen der zweiten Oberfläche mit einem Laserstrahl einschließt, um die Stickstoff-Polarität der zweiten Oberfläche zu der Gruppe-III-Polarität zu ändern.
申请公布号 DE102009019281(A1) 申请公布日期 2010.04.22
申请号 DE200910019281 申请日期 2009.04.28
申请人 SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO. LTD. 发明人 YANG, JONG IN;LEE, SANG BUM;SONG, SANG YEOB;LEE, SI HYUK;KIM, TAE HYUNG
分类号 H01L21/268;H01L33/00 主分类号 H01L21/268
代理机构 代理人
主权项
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