发明名称 一种ESD用均匀触发半导体硅控整流控制器
摘要 一种静电放电防护电路中用的均匀触发半导体硅控整流控制器,包括:P型半导体衬底,在P型半导体衬底上面分别设置有相邻的N型阱和P型阱,在N型阱中设有低浓度N型半导体区和P型半导体区,在低浓度N型半导体区、P型半导体区、N型半导体区和P型半导体区以外的区域设有场氧化层,在N型半导体区和P型掺杂半导体区上连有金属层,构成了横向半导体硅控整流控制器的阳极;在N型掺杂半导体区和P型半导体区上连有金属层,构成了横向半导体硅控整流控制器的阴极。在P型阱和N型阱交界处的场氧化层的下表面处设有高浓度P型场注入层,在N型阱中设有低浓度N型半导体区。其能够获得较低触发电压,并且有利于均匀触发的横向硅控整流器。
申请公布号 CN101697355A 申请公布日期 2010.04.21
申请号 CN200910233695.7 申请日期 2009.10.28
申请人 苏州博创集成电路设计有限公司 发明人 王钦;李海松;刘侠;杨东林;易扬波;陈文高
分类号 H01L29/74(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/36(2006.01)I;H01L23/60(2006.01)I 主分类号 H01L29/74(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 楼高潮
主权项 一种ESD用均匀触发半导体硅控整流控制器,包括:P型掺杂半导体衬底(1),在所述P型掺杂半导体衬底(1)上面分别设置有相邻的N型掺杂阱(2)和P型掺杂阱(3),在所述N型掺杂阱(2)中设有低浓度N型掺杂半导体区(5)和P型掺杂半导体区(6),在所述低浓度N型掺杂半导体区(5)中设有N型掺杂半导体区(4),在所述P型掺杂阱(3)中设有N型掺杂半导体区(7)和P型掺杂半导体区(8),在所述低浓度N型掺杂半导体区(5)、P型掺杂半导体区(6)、N型掺杂半导体区(7)和P型掺杂半导体区(8)以外的区域设有场氧化层(10),在所述低浓度N型掺杂半导体区(5)、P型掺杂半导体区(6)、N型掺杂半导体区(7)、P型掺杂半导体区(8)和场氧化层(10)的表面设有二氧化硅介质层(11),在所述N型掺杂半导体区(4)和P型掺杂半导体区(6)上连有金属层(12),构成了横向半导体硅控整流控制器的阳极;在所述N型掺杂半导体区(7)和P型掺杂半导体区(8)上连有金属层(13),构成了横向半导体硅控整流控制器的阴极;在所述P型掺杂阱(2)和N型掺杂阱(3)交界处的场氧化层(10)的下表面处设有高浓度P型场注入层(9),其特征在于,所述低浓度N型掺杂半导体区(5)完全包围N型掺杂半导体区(4)。
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