发明名称 基于随机置换的伪随机序列的随机性检测方法
摘要 本发明公开了一种基于随机置换的伪随机序列的随机性检测方法,它属于检测领域,主要解决现有的随机性检测方法中存在的局限性和片面性的问题。其检测步骤是:对待测序列进行一系列的随机置换处理,如求逆或取反或随机交织;将随机置换处理后得到的逆序列或反序列或随机交织序列用Cramér-von Mises检测方法进行统计,得到对应序列的统计值,将对应序列的统计值与选定的标准统计值进行比较,若统计值小于该标准统计值,则待测序列满足随机特性,反之待测序列不具有随机特性。本发明使得伪随机序列的随机性检测在检测结果上更加全面,可应用于保密通信、航空航天、测距、密码学和自动控制领域。
申请公布号 CN101697533A 申请公布日期 2010.04.21
申请号 CN200910218442.2 申请日期 2009.10.21
申请人 西安电子科技大学 发明人 马文平;陈秋丽;殷浩
分类号 H04L25/03(2006.01)I;H04B1/707(2006.01)I 主分类号 H04L25/03(2006.01)I
代理机构 陕西电子工业专利中心 61205 代理人 王品华;朱红星
主权项 1.一种基于随机置换的伪随机序列的随机性检测方法,包括如下过程:(1)设置待测二元序列为a<sub>1</sub>,a<sub>2</sub>,...,a<sub>n</sub>,长度为n;(2)对待测序列求逆,得到逆序列为:a<sub>n</sub>,a<sub>n-1</sub>,...,a<sub>1</sub>;(3)对逆序列用Cramér-von Mises测试方法进行统计,得到逆序列的统计值<img file="F2009102184422C0000011.GIF" wi="667" he="150" />N为采样点,x<sub>1(i)</sub>为根据逆序列构造的一个服从标准正态分布的统计量,F(x<sub>1(i)</sub>)为标准正态分布函数;(4)通过Cramér-von Mises测试方法,选定一个分位点α(0<α<1),构造标准统计值<img file="F2009102184422C0000012.GIF" wi="748" he="97" />x<sub>α</sub>为α对应的标准正态分布变量,F(x)为待测分布函数,F<sup>*</sup>(x)为标准正态分布函数,F(x)服从与F<sup>*</sup>(x)对应的随机特性;(5)将逆序列的统计值T<sub>1</sub>与标准统计值Nw<sup>2</sup>进行比较,若T<sub>1</sub>小于该标准统计值,则待测序列满足随机特性,反之待测序列不具有随机特性。
地址 710071 陕西省西安市太白路2号