| 摘要 |
Dispositivo (1) para medir la topografía y la aberración de onda de un sistema de lentes (2) - con un primer sistema de medición (8) que comprende una fuente de luz (10) para emitir un primer haz de luz (11) con una primera longitud de onda (λ1), así como un detector (20, 48) para recoger el primer haz de luz reflejado (11'') en el sistema de lentes (2), - así como con un segundo sistema de medición (9) que comprende una fuente de luz (21) para emitir un segundo haz de luz (22) con una segunda longitud de onda (λ2), así como un detector (24, 48) para recoger el segundo haz de luz (22'') transmitido a través del sistema de lentes (2), caracterizado porque un elemento óptico difractivo (18) está dispuesto en un área común (14) de las trayectorias de rayos de un primer (8) y de un segundo (9) sistemas de medición y adapta, de forma selectiva respecto a la longitud de onda, la trayectoria del frente de ondas (34) del primer haz de luz (11, 11'') y del segundo haz de luz (22, 22''), respectivamente. |
