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Eine Vorrichtung (1) zum Ermitteln optischer Eigenschaften von Materialien (10) mit einer ersten Mesichtung (4) aufweist, welche Strahlung unter einem ersten vorgegebenen Einstrahlwinkel auf das Material (10) richtet und welche eine erste Strahlungsdetektoreinrichtung (6) aufweist, welche unter einem ersten Aufnahmewinkel gegenüber dem Material (10) angeordnet ist und wenigstens einen Anteil der von der ersten Strahlungseinrichtung (4) auf das Material gerichteten und von dem Material (10) zurückgeworfenen Strahlung aufnimmt, wobei die erste Strahlungsdetektoreinrichtung (6) ein erstes charakteristisches Signal ausgibt, das für eine Intensität der auf die erste Strahlungsdetektoreinrichtung (4) auftreffenden Strahlung charakteristisch ist. Erfindungsgemäß weist die Vorrichtung (1) eine zweite Messeinrichtung (12) auf, welche eine zweite Strahlungseinrichtung (4, 14) aufweist, welche Strahlung unter einem zweiten vorgegebenen Einstrahlwinkel auf das Material (10) richtet und welche eine zweite Strahlungsdetektoreinrichtung (16) aufweist, welche unter einem zweiten Aufnahmewinkel gegenüber dem Material angeordnet ist und wenigstens einen Anteil der von der zweiten Strahlungseinrichtung (14) auf das Material gerichteten und von dem Material (10) zurückgeworfenen Strahlung aufnimmt, wobei die zweite Strahlungsdetektoreinrichtung (16) eine ortsaufgelöste Bewertung der auf sie auftreffenden Strahlung erlaubt und wenigstens ein ... |
