发明名称 | 测试电路和片上系统 | ||
摘要 | 本发明提供了一种测试电路以及片上系统。所述测试电路包括:输入/输出引脚,用于接收测试数据;延迟复位信号生成器,用于延迟复位信号;计数器,用于响应于所述复位信号而对时钟信号计数以生成计数值;模式寄存器,用于存储所述测试数据;以及解码器,用于生成到所述模式寄存器的选择信号,以指定在所述模式寄存器中写入测试数据的位置。 | ||
申请公布号 | CN101694512A | 申请公布日期 | 2010.04.14 |
申请号 | CN200910178653.8 | 申请日期 | 2006.02.05 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 宋海镇;朱镇太 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 邵亚丽 |
主权项 | 一种测试电路,包括:输入/输出引脚,用于接收测试数据;延迟复位信号生成器,用于延迟复位信号;计数器,用于响应于所述复位信号而对时钟信号计数以生成计数值;模式寄存器,用于存储所述测试数据;以及解码器,用于生成到所述模式寄存器的选择信号,以指定在所述模式寄存器中写入测试数据的位置。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |