发明名称 测试电路和片上系统
摘要 本发明提供了一种测试电路以及片上系统。所述测试电路包括:输入/输出引脚,用于接收测试数据;延迟复位信号生成器,用于延迟复位信号;计数器,用于响应于所述复位信号而对时钟信号计数以生成计数值;模式寄存器,用于存储所述测试数据;以及解码器,用于生成到所述模式寄存器的选择信号,以指定在所述模式寄存器中写入测试数据的位置。
申请公布号 CN101694512A 申请公布日期 2010.04.14
申请号 CN200910178653.8 申请日期 2006.02.05
申请人 三星电子株式会社 发明人 宋海镇;朱镇太
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 邵亚丽
主权项 一种测试电路,包括:输入/输出引脚,用于接收测试数据;延迟复位信号生成器,用于延迟复位信号;计数器,用于响应于所述复位信号而对时钟信号计数以生成计数值;模式寄存器,用于存储所述测试数据;以及解码器,用于生成到所述模式寄存器的选择信号,以指定在所述模式寄存器中写入测试数据的位置。
地址 韩国京畿道