发明名称 |
一种横向剪切干涉成像装置 |
摘要 |
一种横向剪切干涉成像装置,属于激光干涉测量装置,解决现有干涉测量装置存在的问题,目的在于具备实时性和简单条纹特性,使用时便于调配且不受强载频影响。本发明包括在光路上依次位于同一条主光轴上的激光光源、扩束准直透镜组和平行平晶;平行平晶入射波面法向与出射波面法向之间构成的偏转角在0°~180°之间可调;扩束准直透镜组口径为40mm~100mm;平行平晶口径为50mm~100mm、厚度为20mm~40mm。本发明元件少、安装和调配过程简单快捷、具备实时性、抗震性强,得到简单的双曝光干涉条纹,适用于光学领域的畸变波面以及工程热物理领域的密度、浓度和温度等参数的实时的无损检测。 |
申请公布号 |
CN101694404A |
申请公布日期 |
2010.04.14 |
申请号 |
CN200910272266.0 |
申请日期 |
2009.09.27 |
申请人 |
华中科技大学 |
发明人 |
周怀春;吕伟;娄春;朱进容 |
分类号 |
G01J5/08(2006.01)I;G02B17/08(2006.01)I;G02B27/09(2006.01)I |
主分类号 |
G01J5/08(2006.01)I |
代理机构 |
华中科技大学专利中心 42201 |
代理人 |
方放 |
主权项 |
一种横向剪切干涉成像装置,包括激光光源、扩束准直透镜组、平行平晶,所述激光光源、扩束准直透镜组和平行平晶在光路上依次位于同一条主光轴上;其特征在于:所述平行平晶入射波面法向与出射波面法向之间构成的偏转角在0°~180°之间可调;所述扩束准直透镜组口径为40mm~100mm;所述平行平晶口径为50mm~100mm、厚度为20mm~40mm。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |