发明名称 |
测定元件的处理设备 |
摘要 |
一种测定元件的处理设备包括:许多测定元件的处理模块(10,13-19)。一个输送系统(11,12)把测定元件输送到每个处理模块处,输送系统适于把测定元件从输送系统送到模块处,使得输送系统能够在第一个测定元件被处理模块作处理的同时输送另一个测定元件。一个控制系统控制着输送系统(11,12)的操作,使得可按预定顺序在各模块之间输送每个测定元件,并且使得可以同时在不同模块中处理许多测定元件。 |
申请公布号 |
CN1497252B |
申请公布日期 |
2010.04.14 |
申请号 |
CN200310102447.1 |
申请日期 |
1999.09.23 |
申请人 |
兰道克斯实验有限公司 |
发明人 |
詹姆斯·鲁道夫·迈耶;阿蒂·卡莱维·坎萨纳霍;斯蒂芬·彼得·菲茨杰拉德;罗伯特·伊凡·麦康奈尔;约翰·维克多·拉蒙特;曹柏林 |
分类号 |
G01N35/00(2006.01)I;G01N33/53(2006.01)I |
主分类号 |
G01N35/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
张金熹 |
主权项 |
一种测定元件清洗模块,用于清洗位于测定元件保持架内的测定元件,模块包括装在可动支座上的一个清洗液体供应探头和一个抽吸探头,抽吸探头安装成与垂线成一个角度,支座可以按照基本上相同的角度移动,由此当抽吸探头插入贮存腔保持架中时,它靠近了贮存腔保持架的侧面,所述模块还包括一个探头清洗区,它位于贮存腔保持架的清洗位置之下,在没有贮存腔保持架时,可移动支座来把抽吸探头送入清洗区,以使得探头能够被清洗。 |
地址 |
英国安特里姆 |