发明名称 |
一种天线变形测量方法 |
摘要 |
一种天线变形测量方法,该方法首先在天线表面粘贴横纵、等间距排列圆形标志点和圆环标志点作为测量标志点,在天线变形前后分别拍摄粘贴测量标志点的天线表面图片,利用圆形标志点和圆环标志点的排列关系,实现同名点匹配,再根据摄影测量原理复现出变形前后天线上标志点的三维坐标,最后以标尺上的编码标志点作为坐标转换的不动参考点,将天线上变形前后的三维坐标统一到同一个坐标系下,计算出天线变形。该方法具有可靠、灵活、精度高的特点,可用于天线在高低温等复杂条件下的变形测量,也用于天线形貌测量,测量精度优于13μm。 |
申请公布号 |
CN101694373A |
申请公布日期 |
2010.04.14 |
申请号 |
CN200910236215.2 |
申请日期 |
2009.10.23 |
申请人 |
北京航空航天大学 |
发明人 |
赵慧洁;姜宏志;李旭东;周杰;李冬 |
分类号 |
G01B11/16(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/16(2006.01)I |
代理机构 |
北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 |
代理人 |
王顺荣;唐爱华 |
主权项 |
一种天线变形测量方法,其特征在于包括以下步骤:(1)在天线表面粘贴横纵、等间距排列的圆形标志点和圆环标志点,作为测量标志点,所有圆形标志点和圆环标志点具有设定的统一的编号;(2)在天线周围布置两根粘贴有多个编码标志点的长度标尺,各个编码标志点具有唯一的编号;(3)在天线变形前后,用测量相机分别围绕天线拍摄两组图片,变形前拍摄的图片为组A,变形后拍摄的图片为组B,所有拍摄图片中包含天线上全部圆形标志点和圆环标志点以及两根标尺上的全部编码标志点;(4)采用圆心提取与标志识别算法,提取出图像中圆形标志点、圆环标志点和编码标志点的圆心坐标;(5)采用基于圆环标志点的编号识别算法,识别所有图片中天线上圆形标志点编号和圆环标志点编号,采用编码标志点识别算法识别所有图片中长度标尺上的编码标志点编号;(6)将不同图像中相同编号的圆形标志点、圆环标志点和编码标志点作为同名匹配点,采用三维形貌求取算法,分别对图片组A和图片组B中的同名匹配点进行三维重建,对应得到三维形貌组C和三维形貌组D;(7)根据三维形貌组C、三维形貌组D,采用基于标尺的变形求取算法计算得到天线的变形结果。 |
地址 |
100191 北京市海淀区学院路37号北航仪器科学与光电工程学院 |