发明名称 半导体结构及其形成方法
摘要 本发明提供一种半导体结构及其形成方法,系应用闸极置换制程。半导体结构具有毗连接触(butted contact),其电性连接源极/汲极至一闸极延伸(gate extension)。上述之半导体结构更包括一接触垫设于源极/汲极上与其电性电连接。接触垫可降低电阻,亦可减少毗连接触与源极/汲极间断路(open)的可能性。接触垫之上表面较佳与闸极延伸等高。
申请公布号 TWI323510 申请公布日期 2010.04.11
申请号 TW095148971 申请日期 2006.12.26
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 彭远清;陈欣仪;卢叙伟;林学仕;陈伟铭
分类号 H01L27/11 主分类号 H01L27/11
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项 一种半导体结构,包括:一浅沟槽绝缘区,位于一基板中;一第一电晶体,包括一闸极位于该基板上,以及一源极/汲极邻接该浅沟槽绝缘区;一闸极延伸,位于该浅沟槽绝缘区之上,且电性连接至一第二电晶体之一闸极;一毗连接触(Butted Contact),位于该闸极延伸之上,并电性连接至该闸极延伸;以及一接触垫,电性连接该毗连接触与该第一电晶体之该源极/汲极,其中该接触垫位于该毗连接触之下,且该接触垫之上表面实质上与该闸极延伸之上表面等高。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号