CIS电路测试探针卡

摘要

本创作揭露一种CIS电路测试探针卡。本创作之至少一实施例是关于将一光学组件设置于此CIS电路测试探针卡之基板邻近，用以于一光线投射至此CIS电路测试探针卡之基板之前，准直该光线。本创作之至少一实施例是关于改变CIS电路测试探针卡之孔洞以及探针之几何配置。CIS电路测试探针卡具有小孔洞以一对一之方式对应于CIS晶片，使得每一小孔洞设置于一相对应之CIS晶片上方。

主权项

一种CIS电路测试探针卡，包含：一基板，该基板具有至少一孔洞以及至少一探针，每一该探针设置于相对应之该孔洞附近；以及一光学组件，该光学组件设置于该基板之邻近，该光学组件可于一光线投射至该基板前，准直该光线。