发明名称 |
Halbleiterbauelement mit vergrabenem Siliziumwiderstand |
摘要 |
<p>Es wird eine eingebettete oder vergrabene Widerstandsstruktur hergestellt, indem ein Halbleitermaterial amorphisiert und nachfolgend in einem polykristallinen Zustand rekristallisiert wird, wodurch für ein hohes Maß an Kompatibilität mit konventionellen polykristallinen Widerständen, etwa Polysiliziumwiderständen, gesorgt wird, wobei das Abscheiden eines speziellen polykristallinen Materials vermieden wird. Somit können polykristalline Widerstände vorteilhaft mit aufwendigen Transistorarchitekturen auf der Grundlage von Nicht-Silizium-Gateelektrodenmaterialien kombiniert werden, wobei auch für ein gutes Leistungsverhalten der Widerstände im Hinblick auf die parasitäre Kapazität gesorgt ist.</p> |
申请公布号 |
DE102008049732(A1) |
申请公布日期 |
2010.04.08 |
申请号 |
DE20081049732 |
申请日期 |
2008.09.30 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG |
发明人 |
KURZ, ANDREAS;BOSCHKE, ROMAN;BULLER, JAMES;WEI, ANDY |
分类号 |
H01L27/06 |
主分类号 |
H01L27/06 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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