发明名称 |
以硅基材料为介质层的低辐射玻璃 |
摘要 |
以硅基材料为介质层的低辐射玻璃,属于节能技术领域,其基本结构中依次包括玻璃基底、介质层、银层,其技术特征是,介质薄膜由组分渐变的硅氧、硅氮或硅氧氮薄膜构成。采用本发明的低辐射玻璃,不仅性能稳定,可靠性高,而且生产效率高,可大大降低成本,有利于大规模推广应用。 |
申请公布号 |
CN101691281A |
申请公布日期 |
2010.04.07 |
申请号 |
CN200910235378.9 |
申请日期 |
2009.10.22 |
申请人 |
李德杰 |
发明人 |
李德杰 |
分类号 |
C03C17/36(2006.01)I;B32B9/04(2006.01)I;B32B15/04(2006.01)I |
主分类号 |
C03C17/36(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
低辐射玻璃,具有单银层结构,其基本结构中,由下而上依次包括玻璃基底10、第1介质层11、银层12、第2介质层13,其特征在于:所述的每个介质层都由若干个子层构成,子层的数目在1到5之间选择;每个子层由组分渐变的硅氧薄膜、硅氮薄膜或硅氧氮薄膜构成;每个子层中,以该子层的中心平面为对称平面,硅组分和折射率在该平面的上下两侧成对称分布,硅组分和折射率最高的部位位于该子层的中心平面,硅组分和折射率最低的部位位于该子层最外侧的两个平面。 |
地址 |
100084 北京市海淀区蓝旗营小区8-1904 |