System und Verfahren zur Gatespannungsbestimmung eines Leistungsfeldeffekttransistors,申请号DE200650006180T-传众专利搜索

发明名称	System und Verfahren zur Gatespannungsbestimmung eines Leistungsfeldeffekttransistors
摘要
申请公布号	DE502006006180(D1)	申请公布日期	2010.04.01
申请号	DE200650006180T	申请日期	2006.08.01
申请人	SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT	发明人	KLAMM, ARNOLD;KORT, VALENTIN
分类号	H02M3/156	主分类号	H02M3/156
代理机构		代理人
主权项
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