| 发明名称 | 提高效率的芯片测试 | ||
| 摘要 | 所述芯片包括基板上的电极。所述电极包括工作电极、参比电极和反电极。所述参比电极构造成不具有固有电势。自组装单层设置在所述参比电极上。所述自组装单层包括间隔基和活性探针。所述活性探针构造成对捕获探针具有比间隔基对该捕获探针更高的亲和性。 | ||
| 申请公布号 | CN101688866A | 申请公布日期 | 2010.03.31 |
| 申请号 | CN200880023278.3 | 申请日期 | 2008.05.28 |
| 申请人 | 吉恩弗路迪克斯公司 | 发明人 | J·-J·高 |
| 分类号 | G01N33/566(2006.01)I;G01N33/68(2006.01)I | 主分类号 | G01N33/566(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 刘 锴;韦欣华 |
| 主权项 | 1.一种电化学传感器装置，包括：在基板上的电极，所述电极包括工作电极、参比电极、和反电极，所述参比电极构造成没有固有电势；以及所述参比电极上的自组装单层，所述自组装单层包括不均匀的化合物选择。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||