| 发明名称 |
光学元件检测装置和方法 |
| 摘要 |
一种光学元件尺寸的检测装置，其包括：多个间隔设置的筛板与多个刮板，每个筛板中形成有多个通孔，每个刮板滑动安装于一相应的筛板，用于沿筛板表面滑动使放置在该筛板上的光学元件通过该筛板内的通孔而到达下一筛板上，该筛板中的通孔的孔径大于所述下一筛板中的通孔的孔径。本发明还涉及一种光学元件尺寸的检测方法。 |
| 申请公布号 |
CN101684997A |
申请公布日期 |
2010.03.31 |
| 申请号 |
CN200810304609.2 |
申请日期 |
2008.09.23 |
| 申请人 |
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
发明人 |
王仲培 |
| 分类号 |
G01B5/20(2006.01)I;G01B5/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/20(2006.01)I |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
1.一种光学元件尺寸的检测装置，其包括：多个间隔设置的筛板与多个刮板，每个筛板中形成有多个通孔，每个刮板滑动安装于一相应的筛板，用于沿筛板表面滑动使放置在该筛板上的光学元件通过该筛板内的通孔而到达下一筛板上，该筛板中的通孔的孔径大于所述下一筛板中的通孔的孔径。 |
| 地址 |
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |
