发明名称 METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING A LITHOGRAPHIC PROCESS PARAMETER.
摘要
申请公布号 NL2003492(A) 申请公布日期 2010.03.31
申请号 NL20092003492 申请日期 2009.09.15
申请人 ASML NETHERLANDS B.V., 发明人 MEESSEN, HIERONYMUS;MATTHEUS, CHRISTINE;LEEWIS, CHRISTIAN
分类号 G01N21/47;G03F7/20 主分类号 G01N21/47
代理机构 代理人
主权项
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