发明名称 一种磁控管溅射装置
摘要 本发明涉及真空镀膜磁控溅射沉积技术,更具体地,涉及一种在真空溅射镀膜时使用的溅射装置,包括:磁控管(1)和电磁线圈(6),彼此同轴相对放置,其中电磁线圈(6)可以沿着磁控管(1)中心轴线远近移动。通过控制电磁线圈(6)的电流大小及方向,和改变电磁线圈与磁控管的相对位置,可以方便有效地改变磁控管和基片区域的磁场位形分布,改变基片区域的等离子体密度。此外当电磁线圈(6)通以低频交流电时,靶材表面的刻蚀跑道变宽,刻蚀更均匀,可以简单有效的提高靶材利用率,同时可以改善沉积薄膜的厚度和性能在空间上的不均匀。本发明具有结构简单,方便、易操作等特点。
申请公布号 CN100596312C 申请公布日期 2010.03.31
申请号 CN200610155915.5 申请日期 2006.12.31
申请人 中国科学院金属研究所 发明人 肖金泉;张小波;孙超;宫骏;华伟刚;石南林;闻立时
分类号 C23C14/35(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 沈阳科苑专利商标代理有限公司 代理人 张志伟
主权项 1.一种磁控管溅射装置,其特征在于:包括磁控管(1)和电磁线圈(6)两个部分,所述磁控管(1)和电磁线圈(6)同轴相对放置;所述的电磁线圈(6)沿磁控管(1)中心线移动放置在磁控管(1)外侧或基片(5)旁或两者之间的任一位置;调节电磁线圈的电流大小及方向,产生一个与磁控管同轴的辅助磁场;所述的电磁线圈(6)所施加的励磁电流为低频交流,低频范围为10-1000Hz,电流大小和频率可以改变,电流大小变化范围在使电磁线圈产生10-500高斯强度内。
地址 110016辽宁省沈阳市沈河区文化路72号