| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND CONTROL METHOD THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PT1643509(E) |
申请公布日期 |
2010.03.25 |
| 申请号 |
PT20040745915T |
申请日期 |
2004.06.15 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORPORATION |
发明人 |
KAZUHIKO SATO;SAE-BUM MYUNG;HIROYUKI CHIBA |
| 分类号 |
G01R31/3183;G11C29/00;G01R31/28;G01R31/319;G11C29/10;G11C29/56 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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