发明名称 |
存储器系统 |
摘要 |
公开了一种存储器系统(10),其包含:具有多个存储器基元的闪速EEPROM非易失性存储器(11),所述存储器基元具有浮栅极且数据项可在其中电擦除以及写入;缓冲存储器(13),其临时存储闪速EERPOM非易失性存储器(11)的数据;控制电路(12,14),其控制闪速EEPROM非易失性存储器(11)和缓冲存储器(13);接口电路(16),其与主机通信,其中,控制电路用于从闪速EEPROM非易失性存储器的将被确定的希望目标区域读取数据,并通过将所读取数据的数据“0”的计数值是否达到预设条件计数值用作确定条件来检测被擦除区域,从而确定写入区域/未写入区域。 |
申请公布号 |
CN101681300A |
申请公布日期 |
2010.03.24 |
申请号 |
CN200980000142.5 |
申请日期 |
2009.03.03 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
长富靖;高岛大三郎;初田幸辅 |
分类号 |
G06F12/02(2006.01)I;G06F12/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06F12/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京市中咨律师事务所 |
代理人 |
杨晓光;郭晓华 |
主权项 |
1.一种存储器系统,其包含:具有多个存储器基元的闪速EEPROM非易失性存储器,所述存储器基元具有浮栅极且数据项可在其中电擦除以及写入;缓冲存储器,其临时存储闪速EERPOM非易失性存储器的数据;控制电路,其控制闪速EEPROM非易失性存储器和缓冲存储器;接口电路,其与主机通信,其中,控制电路用于从闪速EEPROM非易失性存储器的将被确定的希望目标区域读取数据,并通过将读取数据的数据“0”的计数是否达到预设条件计数用作确定条件来检测被擦除区域,从而确定写入区域/未写入区域。 |
地址 |
日本东京都 |