| 发明名称 | 检测出现的坏块 | ||
| 摘要 | 本发明揭示设备及方法，例如从非易失性集成电路存储器装置(106)(例如NAND快闪)读取数据的那些设备及方法。例如，所揭示的技术可体现于操作系统(104)的装置驱动器(110)中。在读取操作期间追踪错误。如果在读取操作期间观察到(204)足够多的错误，那么当请求擦除块或请求写入(210)、(212)、(214)、(310)所述块的页时使所述块退出。一个实施例为从不可校正的错误恢复数据的技术。例如，可将读取模式改变(410)为更可靠的读取模式来尝试恢复数据。一个实施例进一步从所述存储器装置(106)返回数据，而不管所述数据是否可通过解码错误校正代码数据来校正(430)。 | ||
| 申请公布号 | CN101681281A | 申请公布日期 | 2010.03.24 |
| 申请号 | CN200880018929.X | 申请日期 | 2008.05.16 |
| 申请人 | 美光科技公司 | 发明人 | 李铁牛 |
| 分类号 | G06F11/00(2006.01)I;G06F11/10(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 沈锦华 |
| 主权项 | 1、一种监视非易失性集成电路存储器装置的块的方法，所述方法包括：解码错误校正代码以确定在读取所述存储器装置的所述块的数据页时是否具有至少一个错误；及至少在读取所述页时具有至少一个错误时维持所述存储器装置的所述块的对应于所读取的所述页的错误历史，其中所述错误历史用于指示是否使所述块及早退出。 | ||
| 地址 | 美国爱达荷州 | ||