发明名称 Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erhöhung der Spannungsfestigkeit von Metalloxidtransistoren bei niedrigen Temperaturen
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erhöhung der Spannungsfestigkeit einer elektronischen Schaltungsanordnung bei niedrigen Temperaturen, wobei die Schaltungsanordnung mindestens einen Metalloxidtransistor aufweist und vor dem Anlegen einer Spannung, die in der Nähe der Durchbruchspannung der Metalloxidtransistoren liegt, dieser durch geeignete Maßnahmen auf eine vorbestimmte Temperatur ausgeheizt wird. Die Erfindung betrifft ebenfalls eine Schaltungsanordnung mit einer erhöhten Spannungsfestigkeit bei niedrigen Temperaturen, wobei die Schaltungsanordnung mindestens einen Metalloxidtransistor aufweist und der mindestens eine Metalloxidtransistor aufgeheizt wird, bevor eine Spannung, die in der Nähe der Sperrspannung des Metalloxidtransistors liegt, an ihn angelegt wird.
申请公布号 DE102008046734(A1) 申请公布日期 2010.03.18
申请号 DE20081046734 申请日期 2008.09.11
申请人 OSRAM GESELLSCHAFT MIT BESCHRAENKTER HAFTUNG 发明人 MUEHLSCHLEGEL, JOACHIM
分类号 H05B41/282;H01L23/60;H02M1/32 主分类号 H05B41/282
代理机构 代理人
主权项
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