发明名称 |
使用无插座测试板对组装级的电子装置的测试 |
摘要 |
本发明提供一种测试系统(100);该测试系统用于检测电子装置(105;105),每个电子装置具有设有多个接线端(210;210)的盒体(205;205),例如,BGA型。该测试系统包括一组(一个或多个)测试板(125;125)。每一个测试板包括多层导电座托(225;225),每一层座托用于支托对应的电子装置;每一个座托适于支托对应电子装置的接线端(210;210)。一组(一个或多个)箱体(230)被设置在测试板上方工作。每一个箱体形成调节流体的可膨胀腔(235);特别是,箱体包括一个刚性主体(240),一个导热材料制成的且面对测试板的弹性膜(245),一个进口(330)和一个出口(335)。装置用于控制调节流体的温度(例如,热交换器)。测试系统还包括用于强制调节流体在压力下流经腔,以使弹性膜向下伸展的装置(345),伸展的弹性膜将电子装置压向测试板,以使电子装置机械锁紧在测试板上,并且调节电子装置的温度。 |
申请公布号 |
CN101675350A |
申请公布日期 |
2010.03.17 |
申请号 |
CN200880011969.1 |
申请日期 |
2008.02.14 |
申请人 |
埃勒斯半导体设备股份公司 |
发明人 |
法布里奇奥·斯科切蒂 |
分类号 |
G01R31/319(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/319(2006.01)I |
代理机构 |
北京中北知识产权代理有限公司 |
代理人 |
焦烨鋆 |
主权项 |
1.一种用于测试电子装置(105;105’)的测试系统(100),每个所述电子装置具有一个设有多个接线端(210;210’)的盒体(205;205’),所述测试系统包括:一组测试板(125;125’),其中每个测试板包括多层导电座托(225;225’),每层座托支托对应电子装置,每个座托适于接收对应电子装置的接线端(210;210’),一组箱体(230),被设置在测试板上方工作,其中每个箱体内形成调节流体的可膨胀腔(235),箱体包括一个刚性主体(240),一个导热材料制成且面对测试板的弹性膜(245),一个进口(330)和一个出口(335),装置(350),用于控制调节流体的温度,以及装置(345),用于在压力下强制调节流体流经腔,以使弹性膜向下伸展,伸展的弹性膜将电子装置压向测试板,以使电子装置机械锁紧在测试板上,并且调节电子装置的温度。 |
地址 |
意大利托迪 |