CMOS图像传感器的列模数转换器及二次采样方法

摘要

本发明提供了一种用于在CMOS图像传感器(CIS)中避免太阳黑效应的模数(ADC)电路。该ADC电路包括：具有信号电压输入端口和参考电压输入端口的比较器，其在重置采样时段将从多个CIS像素中的一个输出的重置电压与参考电压进行比较，并当所述重置电压低于所述参考电压时输出溢出传感信号；以及将所述比较器的输出转换成数字数据的数字比较器，其中该数字比较器包括第一锁存器，当在重置采样时段的第一部分中比较器输出溢出传感信号时，该第一锁存器存储该溢出信号，并响应于该溢出传感信号，在信号采样时段中输出指示溢出的标志信号。

主权项

1.一种CMOS图像传感器CIS的列模数转换器ADC电路，该列ADC电路包括：比较器，其具有信号电压输入端口和参考电压输入端口，在重置采样时段的第一部分中，该比较器将从多个CIS像素之一输出的重置电压与参考电压进行比较，并在该重置电压低于参考电压时输出溢出传感信号；和数字转换器，其将比较器的输出转换成数字数据，其中，重置采样时段被分成所述第一部分和第二部分，在重置采样时段的第二部分中，执行对重置电压进行采样的重置采样，并且其中，该数字转换器包括第一锁存器，当在重置采样时段的第一部分期间从比较器输出所述溢出传感信号时，该第一锁存器存储该溢出传感信号，并响应于该溢出传感信号在信号采样时段中输出指示溢出的标志信号以作为数字转换器的输出，当所述比较器不输出溢出传感信号时，所述数字转换器输出与从CIS像素之一输出的光电荷相对应的数字数据。