| 发明名称 | 用于测量磁场的空间分量的磁场传感器装置 | ||
| 摘要 | 提出了一种用于测量磁场的空间分量的磁场传感器装置，其中，利用磁场传感器(4，5)在充分利用一磁阻层状结构的XMR效应的情况下，待检测的磁场的一另外的、垂直于或者不平行于层状结构存在的分量可通过如下方式被检测，即至少一个磁通压缩器(1)被如此设置在层状结构之上，使得磁通压缩器(1)的边缘区域中的磁力线(3)可被如此偏转，使得磁力线(3)在此构造出磁场的一水平分量。 | ||
| 申请公布号 | CN101672902A | 申请公布日期 | 2010.03.17 |
| 申请号 | CN200910170527.8 | 申请日期 | 2009.09.08 |
| 申请人 | 罗伯特·博世有限公司 | 发明人 | C·鲍尔 |
| 分类号 | G01R33/02(2006.01)I;G01R33/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R33/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 曾 立 |
| 主权项 | 1.用于测量一磁场的空间分量的磁场传感器装置，其中，利用至少一个磁场传感器(4)在充分利用一磁阻层状结构的XMR效应的情况下，待检测的磁场的一另外的、垂直于或者不平行于所述层状结构存在的分量可通过如下方式被检测，即至少一个磁通压缩器(1)被如此设置在所述层状结构之上，使得所述磁通压缩器(1)的边缘区域中的磁力线(3)可被如此偏转，使得所述磁力线(3)在此构造出所述磁场的一水平分量。 | ||
| 地址 | 德国斯图加特 | ||