| 发明名称 | 一种检测射频馈线损耗的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种检测射频馈线损耗的方法和装置，主要应用于移动通信领域。本发明的检测方法，在射频拉远单元RRU中，将发射通道切换到检测通道，对发射通道的输出功率进行检测；在RRU中，将发射通道切换到校准通道，对发射通道进行校准；根据检测结果和校准结果，计算RRU和天线间的射频馈线损耗。本发明公开的检测射频馈线损耗的方法和装置，通过射频开关将发射通道输出功率的检测和发射通道的校准有机的结合起来，有效提高了射频馈线损耗检测的精度。 | ||
| 申请公布号 | CN101674141A | 申请公布日期 | 2010.03.17 |
| 申请号 | CN200810222238.3 | 申请日期 | 2008.09.12 |
| 申请人 | 中国移动通信集团公司;普天信息技术研究院有限公司 | 发明人 | 王东;程广辉;王西昌;曹雪 |
| 分类号 | H04B17/00(2006.01)I;H04W24/00(2009.01)I | 主分类号 | H04B17/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王正茂;彭晓玲 |
| 主权项 | 1、一种检测射频馈线损耗的方法，其特征在于，包括下列步骤：在射频拉远单元RRU中，将发射通道切换到检测通道，对所述发射通道的输出功率进行检测；在RRU中，将发射通道切换到校准通道，对所述发射通道进行校准；根据所述检测结果和校准结果，计算所述RRU和天线间的射频馈线损耗。 | ||
| 地址 | 100032北京市西城区金融大街29号 | ||