发明名称 变温肖特基二极管特性测试仪
摘要 本实用新型提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪,属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统,变温系统用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制,并根据数据采集系统的数据信息,计算出肖特基二极管的势垒高度qφ<sub>b</sub>、有效理查德常数A<sup>**</sup>、理想因子n和串联电阻R。本实用新型可直接获得肖特基二极管的特性参数,提高了测量效率。
申请公布号 CN201425615Y 申请公布日期 2010.03.17
申请号 CN200920106228.3 申请日期 2009.03.17
申请人 北京大学 发明人 贾春燕;刘国超;冉书能;孙鼎;蒋莹莹;荀坤;邢启江
分类号 G01R31/26(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 贾晓玲
主权项 1、一种变温肖特基二极管特性测试仪,其特征在于,包括:一变温系统,用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;一数据采集系统,用于对肖特基二极管两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;和一计算机控制系统,用于对数据采集系统进行控制。
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