发明名称 |
变温肖特基二极管特性测试仪 |
摘要 |
本实用新型提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪,属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统,变温系统用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制,并根据数据采集系统的数据信息,计算出肖特基二极管的势垒高度qφ<sub>b</sub>、有效理查德常数A<sup>**</sup>、理想因子n和串联电阻R。本实用新型可直接获得肖特基二极管的特性参数,提高了测量效率。 |
申请公布号 |
CN201425615Y |
申请公布日期 |
2010.03.17 |
申请号 |
CN200920106228.3 |
申请日期 |
2009.03.17 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
贾春燕;刘国超;冉书能;孙鼎;蒋莹莹;荀坤;邢启江 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人 |
贾晓玲 |
主权项 |
1、一种变温肖特基二极管特性测试仪,其特征在于,包括:一变温系统,用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;一数据采集系统,用于对肖特基二极管两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;和一计算机控制系统,用于对数据采集系统进行控制。 |
地址 |
100871北京市海淀区颐和园路5号北京大学 |