发明名称 高去除率、低损伤的铜化学机械抛光液及制备方法
摘要 本发明公开一种高去除率、低损伤的铜化学机械抛光液,由磨料、络合剂、成膜剂、分散剂、氧化剂及纯水组成,各原料的质量百分比为:磨料0.1%~20%、络合剂0.1%~2%、成膜剂0.01%~2%、分散剂0.1%~3%、氧化剂0.01%~10%、纯水小于或等于90%。本发明提供的抛光液具有高去除速率(抛光速率可达到600~800nm)和低表面损伤(局部和整体腐蚀、蝶形缺陷及刮伤)的特点,提高了产品优良率,有利于实现铜的全局平坦化,且抛光后清洗简单、方便。
申请公布号 CN101671527A 申请公布日期 2010.03.17
申请号 CN200910187630.3 申请日期 2009.09.27
申请人 大连三达奥克化学股份有限公司 发明人 侯军;吕冬;程宝君;吴聪
分类号 C09G1/02(2006.01)I;C23F3/04(2006.01)I 主分类号 C09G1/02(2006.01)I
代理机构 大连非凡专利事务所 代理人 闪红霞
主权项 1.一种高去除率、低损伤的铜化学机械抛光用抛光液,其特征在于由磨料、络合剂、成膜剂、分散剂、氧化剂及纯水混合后再用KOH或HNO3调节pH值至1.0~7.0,各原料的质量百分比为:磨料 0.1%~20%络合剂 0.1%~2%成膜剂 0.01%~2%分散剂 0.1%~3%氧化剂 0.01%~10%纯水 小于或等于90%。
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