| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé pour rechercher la présence d'un analyte lié à une sonde, dans lequel un motif géométrique périodique (24), constituant un système diffractant (2), est formé par une alternance de zones comportant une sonde A, et de zones ne comportant pas la sonde A. Le système diffractant (2) est réalisé pour être diffractant avant une étape de sensibilisation, c'est-à-dire une étape au cours de laquelle une sonde est mise en contact temporairement avec un milieu susceptible de contenir un analyte et au cours de laquelle l'éventuel analyte se fixe à la sonde. Le procédé comporte au moins les étapes de : - mesure d'une puissance P1 d'un faisceau de diffraction d'ordre 1 d'un champ de diffraction produit par le système diffractant, sonde non sensibilisée, - sensibilisation de la sonde A, - mesure d'une puissance P1a d'un faisceau de diffraction d'ordre 1 d'un champ de diffraction produit par le système diffractant, - comparaison des puissances mesurées P1 et P1a.</p> |
