薄膜发光辉度之检测设备与方法

摘要

本发明提供一种薄膜发光辉度之检测设备与方法，其系利用薄膜变形量量测仪与发光辉度量测仪来建立薄膜变形与发光辉度间的对应关系，藉由量测待测试片之薄膜变形量与对应关系进行比对分析来预测薄膜发光元件的发光辉度与发光寿命。

主权项

一种薄膜发光辉度检测设备，其包含有：一承载平台，其系用以承载一试片；一发光辉度检测仪，其系用以检测该试片的发光度；一薄膜变形量量测仪，其系用以量测该试片的薄膜变形量；一电源供应器，其系用以供应该试片电源；以及一处理单元，其系与该发光辉度检测仪与该薄膜变形量量测仪电性连接，以接收该发光辉度检测仪与该薄膜变形量量测仪所获得之数据进行分析与储存。