| 摘要 |
Атомно-силовой микроскоп, характеризующийся тем, что он оснащен дополнительным препаративным кантилевером с иглой трубчатой формы, расположенной коаксиально относительно основной иглы-зонда микроскопа, при этом дополнительный препаративный кантилевер может иметь нижнее или верхнее расположение относительно кантилевера с основной иглой-зондом микроскопа. |
