发明名称 基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法
摘要 本发明涉及一种基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法,根据实验得到n个试验样品的平均亮度数据,应用威布尔函数来描述真空荧光显示器的亮度衰减,并采用最小二乘法对其进行参数估计,从而达到计算出真空荧光显示器在加速温度应力T条件下的平均寿命μ,代入在正常应力T<sub>0</sub>下的平均寿命公式中,预测出真空荧光显示器寿命,此方法对真空荧光显示器的寿命预测和初始亮度设计具有指导意义。
申请公布号 CN101666705A 申请公布日期 2010.03.10
申请号 CN200910195206.3 申请日期 2009.09.07
申请人 上海电力学院 发明人 张建平
分类号 G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 代理人 吴宝根
主权项 1、一种基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:1)采集试验数据:n个试验样品在加速温度应力T条件下,其t<sub>i</sub>(i=1,2,...,N)时刻的亮度为L<sub>k</sub>(t<sub>i</sub>)(k=1,2,...,n),则t<sub>i</sub>时刻n个试验样品的平均亮度为:<img file="A2009101952060002C1.GIF" wi="418" he="115" />由此可得到n个试验样品的平均亮度数据(t<sub>i</sub>,L(t<sub>i</sub>))(i=1,2,...,N);2)用威布尔分布来描述真空荧光显示器的亮度衰减:真空荧光显示器的亮度衰减公式可由威布尔函数来表示<img file="A2009101952060002C2.GIF" wi="456" he="113" />式中:L<sub>0</sub>为产品的初始亮度,L(t)为产品在t时刻的平均亮度,m为形状参数,η为尺度参数;3)采用最小二乘法对步骤2)中形状参数m和尺度参数η进行参数估计;4)真空荧光显示器平均寿命的计算:真空荧光显示器在正常应力T<sub>0</sub>下的平均寿命μ<sub>0</sub>为:μ<sub>0</sub>=τ·μ,其中τ为真空荧光显示器在加速应力T相对于正常温度应力T<sub>0</sub>下的寿命加速系数<img file="A2009101952060002C3.GIF" wi="424" he="121" />根据步骤2)中的真空荧光显示器的亮度衰减公式,可得真空荧光显示器在加速温度应力T条件下的平均寿命<img file="A2009101952060002C4.GIF" wi="517" he="136" />其中L<sup>*</sup>为失效标准亮度,可得真空荧光显示器在正常工作应力T<sub>0</sub>下的平均寿命为<img file="A2009101952060002C5.GIF" wi="696" he="140" />
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