发明名称 一种光学干涉测量装置及其方法
摘要 本发明公开了一种光学干涉测量装置及其方法。激光器产生的相干光束经过第一半透半反分束器分成两个相干光束,其中一个相干光束经过第一反射镜的移动产生一个相位变化,另一个相干光束经过第二反射镜进入相位调制组件,然后两个相干光束经过的半透半反分束器输出两个干涉光束,两个干涉光束经过探测器的探测变成电信号,电信号经过第一差分器和相关器实现对相位变化的测量。本发明利用特殊设计的赝随机相位序列实现干涉测量中相位灵敏度的提高。只需要一般的相干光源以及线性光学元件,在引力波探测、微纳米位移测量、光纤陀螺和光纤声纳探测等领域具有重要的应用前景。
申请公布号 CN100593686C 申请公布日期 2010.03.10
申请号 CN200710069331.0 申请日期 2007.06.15
申请人 浙江大学 发明人 符建
分类号 G01B9/02(2006.01)I 主分类号 G01B9/02(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 张法高
主权项 1.一种光学干涉测量装置,其特征在于它包括激光器(1)、第一反射镜(2)、第一半透半反分束器(3)、第二反射镜(4)、相位调制组件(5)、第一探测器(6)、第一差分器(7)、相关器(8),激光器(1)产生的相干光束经过第一半透半反分束器(3)分成两个相干光束,其中一个相干光束经过第一反射镜(2)的移动产生一个相位变化,另一个相干光束经过第二反射镜(4)进入相位调制组件(5),然后两个相干光束经过的第一半透半反分束器(3)输出两个干涉光束,两个干涉光束经过第一探测器(6)的探测变成电信号,电信号经过第一差分器(7)和相关器(8)实现对相位变化的测量;所述的相位调制组件(5)是一个带有光锁相环控制单元的相位调制机构,它包括分束器(9)、第二半透半反分束器(10)、第二探测器(11)、第二差分器(12)、放大器(13)、环路滤波器(14)、控制信号发生器(15)、赝随机码产生器(16)、相位调制器(17),相干光束经过相位调制器(17)前后的两个分束器(9)的作用,产生的两个相干光束经过第二半透半反分束器(10)输出两个干涉光束,两个干涉光束经过第二探测器(11)的探测变成电信号,电信号经第二差分器(12),放大器(13)、环路滤波器(14)产生一个控制信号,控制信号和赝随机码产生器(16)产生的赝随机码序列经过控制信号发生器(15)产生一个驱动信号对相位调制器(17)进行驱动。
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