| 发明名称 | 测试覆盖分析方法和装置 | ||
| 摘要 | 公开了一种测试覆盖分析方法和相应的装置，该方法包括：通过使用一个或多个测试用例运行被测试程序，生成包含被测试程序的调用栈信息的一个或多个堆转储文件；以及对所述一个或多个堆转储文件中的调用栈信息进行分析，以获得所述一个或多个测试用例对于所述被测试程序中函数的覆盖性信息。 | ||
| 申请公布号 | CN101661425A | 申请公布日期 | 2010.03.03 |
| 申请号 | CN200810212446.5 | 申请日期 | 2008.08.26 |
| 申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | 曾春光;张志 |
| 分类号 | G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/36(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 于 静;张亚非 |
| 主权项 | 1.一种测试覆盖分析方法，包括：通过使用一个或多个测试用例运行被测试程序，生成包含被测试程序的调用栈信息的一个或多个堆转储文件；以及对所述一个或多个堆转储文件中的调用栈信息进行分析，以获得所述一个或多个测试用例对于所述被测试程序的函数的覆盖性信息。 | ||
| 地址 | 美国纽约 | ||