用于随机存取存储器的可编程自检测

摘要

本发明公开了一种可提供用于检测存储器的大指令集又能降低面积开销的系统。这种用于检测集成电路的存储器的系统包括：一组寄存器，提供用于多个检测的基于要素的可编程性，即一个检测可以一个要素一个要素的编程，其中各个检测包括多个检测要素；一个有限状态机，用于从寄存器组接收多个检测指令，其中该有限状态机分配信号来指示检测模式发生器以产生检测模式；一个存储器控制模块，用于将所产生的检测模式施加到存储器；以及一个比较器模块，用于将从存储器接收的响应与所存储的、已知的响应相比较。

主权项

1.一种用于检测集成电路的存储器的系统，包括：一组寄存器，提供用于多个检测的基于要素的可编程性，即，一个检测可以一个要素一个要素的编程，其中各个检测包括多个检测要素；一个有限状态机，用于从所述寄存器组接收多个检测指令，其中所述有限状态机分配信号来指示检测模式发生器以产生检测模式；一个存储器控制模块，用于将所产生的检测模式施加到存储器；以及一个比较器模块，用于将从所述存储器接收的响应与所存储的、已知的响应相比较。