| 发明名称 | 晶片测试机及晶片测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明是有关一种晶片测试机及晶片测试方法。该晶片测试机，包含：至少一晶片插座：以及至少一晶片取放装置，该晶片取放装置具有一取放机构及一下压机构，该下压机构具有一测试光源。该晶片测试方法，应用于一系统层级测试，其包括以下步骤：提供一晶片；藉由一晶片取放装置将该晶片移至一晶片插座，其中，该晶片插座具有一固定机构，用以固定该晶片，该晶片取放装置具有一取放机构及一下压机构，该下压机构具有一测试光源；以及将该晶片取放装置移出该晶片插座。本发明的晶片测试机，每一晶片插座具有独立机构，可分别进行晶片取放与下压，不会因为等待晶片取放装置而闲置，因此测试的效率可得以提升。 | ||
| 申请公布号 | CN101661077A | 申请公布日期 | 2010.03.03 |
| 申请号 | CN200810146845.6 | 申请日期 | 2008.08.25 |
| 申请人 | 京元电子股份有限公司 | 发明人 | 温进光 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿 宁;张华辉 |
| 主权项 | 1、一种晶片测试机，其特征在于其包含：至少一晶片插座：以及至少一晶片取放装置，该晶片取放装置具有一取放机构及一下压机构，该下压机构具有一测试光源。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||