发明名称 一种电源管理芯片测试装置
摘要 本实用新型适用于芯片测试的技术领域,提供了一种电源管理芯片测试装置,装置包括:用于装载被测芯片的探针台;对被测芯片的电气参数进行采集的针卡;与针卡连接,根据针卡采集的电气参数进行处理,输出测试结果信号的测试单元;分别与测试单元和探针台连接的主控模块,根据测试结果信号并输出控制信号,控制探针台的位移;分别为测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块。在本实用新型中,电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置,这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来说,不仅操作简单、方便,而且降低了成本。
申请公布号 CN201417297Y 申请公布日期 2010.03.03
申请号 CN200920131139.4 申请日期 2009.04.29
申请人 深圳安博电子有限公司 发明人 翟锋;孔晓琳
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 深圳中一专利商标事务所 代理人 张全文
主权项 1、一种电源管理芯片测试装置,其特征在于,所述装置包括:用于装载被测芯片的探针台;对被测芯片的电气参数进行采集的针卡;与所述针卡连接,根据针卡采集的电气参数进行处理,输出测试结果信号的测试单元;分别与所述测试单元和探针台连接的主控模块,根据所述测试结果信号并输出控制信号,控制所述探针台的位移;分别为所述测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块;与所述主控模块连接,为其输入控制信号的输入模块;以及与所述主控模块连接,显示测试结果的显示模块。
地址 518000广东省深圳市龙岗区布吉镇三联和生工业区2栋