| 发明名称 | 光学头性能检查调整设备 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开一种体积小、成本低、通用性强的光学头性能检查调整设备，有上位机，上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接，DSP芯片与FPGA控制器相接，FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接；FPGA控制器的输出与激光管控制电路相接；FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路相接；用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接；信号处理电路的输出与示波器、Jitter表相接，Jitter表的输出通过A/D-1与FPGA控制器相接。 | ||
| 申请公布号 | CN201417606Y | 申请公布日期 | 2010.03.03 |
| 申请号 | CN200920014897.8 | 申请日期 | 2009.06.26 |
| 申请人 | 中国华录·松下电子信息有限公司 | 发明人 | 温庆坡;孙冬;路忠良;刘大伟;韩勇权 |
| 分类号 | G11B20/18(2006.01)I | 主分类号 | G11B20/18(2006.01)I |
| 代理机构 | 大连非凡专利事务所 | 代理人 | 闪红霞 |
| 主权项 | 1.一种光学头性能检查调整设备，其特征在于：设有上位机，上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接，DSP芯片与FPGA控制器相接，FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接；FPGA控制器的输出与激光管控制电路相接；FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路相接；用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接；信号处理电路的输出与示波器、Jitter表相接，Jitter表的输出通过A/D-1与FPGA控制器相接。 | ||
| 地址 | 116023辽宁省大连市高新技术园区华路1号(中国华录·松下电子信息有限公司) | ||