发明名称 填充内连线介层窗的铝基质导体及其应用
摘要 提供一种填充内连线介层窗的铝基质导体,及藉由此铝基质导体所形成的半导体元件。半导体元件包括有第一介电层。其中介电层具有截面面积实质小于1μm2的开口形成于其中,以及填充于开口中的物理气相沉积铝基质导体。
申请公布号 TWI321347 申请公布日期 2010.03.01
申请号 TW096104323 申请日期 2007.02.06
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 王昭雄;黄健朝;胡正明;曾鸿辉
分类号 H01L21/768;H01L21/3205 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项 一种半导体元件的制造方法,包括:提供一第一介电层,该介电层具有复数个开口贯穿该介电层;形成复数个第一插塞部,其中每一该些第一插塞部系形成于位在该第一介电层中的该些开口的其中一者中,包括沉积包含有铝的一第一金属至位于第一介电层中的每一该些开口,其中该第一金属具有一第一晶粒尺寸;以及形成一第一内连线部分,包括在每一该些第一插塞部上,沉积包括有铝的一第二金属,其中该第二金属具有一第二晶粒尺寸,且该第一晶例尺寸系实质小于该第二晶例尺寸。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号