| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Nachweis von, insbesondere zu bedruckenden und/oder bereits bedruckten, Objekten in einer mit Verschmutzungsteilchen durchsetzten Einsatzumgebung. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird ein erster Lichtfleck auf eine erste Stelle eines nachzuweisenden Objekts gestrahlt, mindestens ein weiterer Lichtfleck wird auf eine von der ersten Stelle verschiedene weitere Stelle des nachzuweisenden Objekts gestrahlt, das von dem ersten Lichtfleck zurückgestrahlte Licht und das von dem weiteren Lichtfleck zurückgestrahlte Licht wird gemessen. Die Größen des ersten Lichtflecks und des weiteren Lichtflecks auf dem nachzuweisenden Objekt werden dabei so gewählt, dass von Verschmutzungsteilchen, die in der Einsatzumgebung typischerweise auftreten und die von einem der Lichtflecke beleuchtet werden, ein nachweisbarer Anteil des angestrahlten Lichts zurückgestrahlt wird. Weiterhin werden die zu dem ersten Lichtfleck und dem weiteren Lichtfleck gehörenden Messsignale ausgewertet und abhängig davon wird ein Schaltsignal ausgegeben, wobei ein Signal "Objekt festgestellt,, nur dann ausgegeben wird, wenn eine Intensität des von dem ersten Lichtfleck und von dem weiteren Lichtfleck zurückgestrahlten Licht jeweils einen festzulegenden Schwellwert überschreitet. Die Erfindung betrifft außerdem einen Lichttaster zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.</p> |
