发明名称 Operationsmikroskop mit großer Schärfentiefe
摘要 Die Erfindung betrifft ein Operationsmikroskop (100) zur Untersuchung eines Objektbereichs (110) mit einem ersten Beobachtungsstrahlengang (103), der zur Erzeugung eines ersten Beobachtungsbildes für eine Beobachtungsperson dient, und mit einem zweiten Beobachtungsstrahlengang (104), der zur Erzeugung eines zweiten Beobachtungsbildes für eine Beobachtungsperson dient, wobei in dem ersten Beobachtungsstrahlengang (103) eine Einheit (120) zur Einstellung von wenigstens einem optischen Abbildungsparameter des ersten Beobachtungsstrahlengangs (103) vorgesehen ist und wobei eine benutzerbetätigbare Einstellvorrichtung (123) vorgesehen ist, die auf die Einheit (121) zur Einstellung von wenigstens einem optischen Abbildungsparameter des ersten Beobachtungsstrahlengangs (103) wirkt. Erfindungsgemäß ist die benutzerbetätigbare Einstellvorrichtung (123) so ausgebildet, dass durch Betätigen der benutzerbetätigbaren Einstellvorrichtung (123) die optischen Abbildungsparameter für den ersten Beobachtungsstrahlengang (103) und die optischen Abbildungsparameter für den zweiten Beobachtungsstrahlengang (104) wahlweise gleich oder verschieden eingestellt werden können.
申请公布号 DE102008041285(A1) 申请公布日期 2010.02.25
申请号 DE200810041285 申请日期 2008.08.15
申请人 CARL ZEISS SURGICAL GMBH 发明人 REIMER, PETER;MIESNER, HANS-JOACHIM;SCHNEIDER, MARTIN
分类号 G02B21/00;A61B19/00;G01L15/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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