发明名称 Mikroner ölçüm yöntemleri ve mikroner ölçümü için lif örneklerinin hazırlanması
摘要 Bir mikroner ölçümü için, lif örneginin, bir uzunlugu ve en az bir hareketli uç duvari olan bir mikroner odacigi içine konularak bir test hacmi belirlenmesi için bir yöntem. Mikroner odaciginin uzunlugu boyunca bir akis baslatilir. Hareketli duvar ilerletilerek lif örnegi mikroner odacigi içinde sikistirilir ve akisin en az bir özelligi bir belirleyici noktaya ulastiginda, uç duvarin ilerlemesi durdurulur. Hareketli uç duvarin konumu deney hacmini belirler. Bu sekilde, bir mikroner ölçümü yapilmasi amaci ile test hacminin belirlenmesi ve ihtiyaç duyulan bilginin elde edilmesi için uygun bir yöntem saglanmis olmaktadir.
申请公布号 TR200907330(T1) 申请公布日期 2010.02.22
申请号 TR20090007330T 申请日期 2009.09.28
申请人 USTER TECHNOLOGIES AG 发明人 JAMES T. WENDER;PRESTON S. BAXTER;HOSSEIN M. GHORASHI
分类号 G01N33/36;G01N15/08 主分类号 G01N33/36
代理机构 代理人
主权项
地址