发明名称 检测钛缺失的方法
摘要 本发明公开了一种检测钛缺失的方法,包括如下步骤:第1步,确保钨插塞下方的金属层具有一条或多条平行铝线,每条铝线连接且只连接两个相邻的钨插塞,每个钨插塞连接且只连接一条所述铝线;第2步,在钨插塞上形成金属钛阻挡层,在金属钛阻挡层上形成金属层,使用包含氯气的刻蚀气体在钨插塞上方的金属层刻蚀一道或多道平行沟槽,每道沟槽都在上下方向对应且只对应于第1步所述的铝线所在位置,每道沟槽都使两个相邻的钨插塞的部分顶部暴露于刻蚀气体;第3步,在第2步刻蚀后的图形的任意位置施加电信号,在其余位置检测电信号,当检测的电信号的衰减超出一定程度则表示出现钛缺失。本发明可以使用通常的电学检测方法检测钛缺失现象,大大提高了检测效率。
申请公布号 CN100590831C 申请公布日期 2010.02.17
申请号 CN200710094311.9 申请日期 2007.11.28
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 张博;徐云
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 陈 平
主权项 1.一种检测钛缺失的方法,其特征是:所述方法包括如下步骤:第1步,确保钨插塞下方的金属层具有一条或多条平行铝线,每条铝线连接且只连接两个相邻的钨插塞,每个钨插塞连接且只连接一条所述铝线;第2步,在钨插塞上形成金属钛阻挡层,在金属钛阻挡层上形成金属层,使用包含氯气的刻蚀气体在钨插塞上方的金属层刻蚀一道或多道平行沟槽,每道沟槽都在上下方向对应且只对应于第1步所述的铝线所在位置,每道沟槽都使两个相邻的钨插塞的部分顶部暴露于刻蚀气体;第3步,在第2步刻蚀后的图形的任意位置施加电信号,在其余位置检测电信号,当检测的电信号的衰减超出一定程度则表示出现钛缺失。
地址 201206上海市浦东新区川桥路1188号