发明名称 晶片的单片式蚀刻装置
摘要 单片式蚀刻装置(10)是一边使将半导体坯料切片而得到的薄圆板状的晶片(11)旋转、一边对晶片(11)的上表面(11a)供给蚀刻液(15)而将晶片(11)的上表面(11a)及边缘面(11b)蚀刻的装置。除了对晶片(11)的上表面(11a供给蚀刻液(15)的第1喷嘴(14)以外,还具备对置于晶片(11)的边缘面(11b)设置、对晶片(11)的边缘面(11b)供给蚀刻液(15)的第2喷嘴(16)。第2喷嘴(16)固定设置在从晶片(11)的外周端朝向晶片径向内侧-10~20mm的范围内的既定的位置上,具备将沿着晶片的边缘面流下的蚀刻液通过气体的喷射而向晶片的径向内侧吹飞的下表面喷吹机构。
申请公布号 CN100590808C 申请公布日期 2010.02.17
申请号 CN200810082137.0 申请日期 2008.03.03
申请人 胜高股份有限公司 发明人 加藤健夫;桥井友裕;村山克彦;古屋田荣;高石和成
分类号 H01L21/306(2006.01)I 主分类号 H01L21/306(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 温大鹏
主权项 1、一种晶片的单片式蚀刻装置,是一边使将半导体坯料切片而得到的薄圆板状的晶片(11)旋转、一边向上述晶片的上表面(11a)供给蚀刻液(15)而对上述晶片的上表面及边缘面进行蚀刻的单片式蚀刻装置(10),其特征在于,具备:第1喷嘴(14),对置于上述晶片的上表面(11a)而设置并一边在上述晶片的上表面(11a)的中心和晶片的周缘之间移动、一边向上述晶片(11)的上表面(11a)供给蚀刻液(15);第2喷嘴(16),对置于上述晶片的边缘面而设置并向上述晶片(11)的边缘面(11b)供给蚀刻液(15);和下表面喷吹机构(17),通过气体的喷射将沿着晶片(11)的边缘面流下的蚀刻液(15)向上述晶片的径向外侧吹飞;通过从上述第2喷嘴(16)以0.1~3升/分的一定流量向边缘面(11b)喷射蚀刻液,实现蚀刻液(15)相对于上述晶片(11)的边缘面(11b)的均匀迂回;上述下表面喷吹机构(17)具有:环状的喷射口(17a),设置在从晶片外周端朝向晶片径向内侧0~10mm的范围内并面向晶片(11)的边缘面(11b)附近的下表面;环状的喷射槽(17b),上端与上述喷射口(17a)连通,并且直径随着朝向下方而逐渐减小;和气体供给机构,与上述喷射槽(17b)连通,通过该喷射槽向上述喷射口(17a)供给压缩的气体。
地址 日本东京都