发明名称 |
一种用于窄测试键的垂直探针卡 |
摘要 |
本发明提供了一种用于窄测试键的垂直探针卡,包括电路板和探针组,该探针组设置在电路板的一侧,且电连接于该电路板;上述探针组包含多个探针,以斜出针的方式布置在电路板上,上述探针具有针先端和针身部分,且针先端和针身部分呈钝角;上述针前端的中间部分装有环状物。本发明的垂直探针可以保证探针在测试时做垂直上下运动。比起现有探针卡,本发明所述的垂直探针卡制作工艺简单,且成本降低。 |
申请公布号 |
CN101650375A |
申请公布日期 |
2010.02.17 |
申请号 |
CN200810146225.2 |
申请日期 |
2008.08.12 |
申请人 |
和舰科技(苏州)有限公司 |
发明人 |
殷卫中;王政烈 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
北京连和连知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张春媛 |
主权项 |
1.一种用于窄测试键的垂直探针卡,其特征在于包括电路板和探针组,该探针组设置在电路板的一侧,且电连接于该电路板;上述探针组包含多个探针,以斜出针的方式布置在电路板上,上述探针具有针先端和针身部分,且针先端和针身部分呈钝角;上述针先端的中间部分装有环状物。 |
地址 |
215025江苏省苏州市苏州工业园区星华街333号 |