发明名称 一种用于窄测试键的垂直探针卡
摘要 本发明提供了一种用于窄测试键的垂直探针卡,包括电路板和探针组,该探针组设置在电路板的一侧,且电连接于该电路板;上述探针组包含多个探针,以斜出针的方式布置在电路板上,上述探针具有针先端和针身部分,且针先端和针身部分呈钝角;上述针前端的中间部分装有环状物。本发明的垂直探针可以保证探针在测试时做垂直上下运动。比起现有探针卡,本发明所述的垂直探针卡制作工艺简单,且成本降低。
申请公布号 CN101650375A 申请公布日期 2010.02.17
申请号 CN200810146225.2 申请日期 2008.08.12
申请人 和舰科技(苏州)有限公司 发明人 殷卫中;王政烈
分类号 G01R1/067(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I 主分类号 G01R1/067(2006.01)I
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人 张春媛
主权项 1.一种用于窄测试键的垂直探针卡,其特征在于包括电路板和探针组,该探针组设置在电路板的一侧,且电连接于该电路板;上述探针组包含多个探针,以斜出针的方式布置在电路板上,上述探针具有针先端和针身部分,且针先端和针身部分呈钝角;上述针先端的中间部分装有环状物。
地址 215025江苏省苏州市苏州工业园区星华街333号