发明名称 一种氮掺杂ZnO的受主激活方法
摘要 一种氮掺杂的ZnO的受主激活方法,属于半导体材料领域,特别涉及一种采用射频等离子体金属有机物化学气相沉积(MOCVD)技术作为氮掺杂ZnO后期退火技术。本发明的目的为克服氮掺杂p型ZnO难以获得的缺点,提供一种利用射频等离子体退火技术,将氮掺杂的ZnO在氮的氧化物等离子体进行高温退火,从而获得高效稳定的p型ZnO掺杂方法。由于在气氛中形成高激活性的氮与氧,可以防止氮掺杂的ZnO中的氮逸出,同时也防止了ZnO中氧的脱附,又同时进行了氮掺杂ZnO中氮受主的激活,从而实现了p型ZnO的制备,进而可以制备出ZnO的pn结发光二极管器件。
申请公布号 CN100590820C 申请公布日期 2010.02.17
申请号 CN200810010103.0 申请日期 2008.01.13
申请人 大连理工大学 发明人 梁红伟;孙景昌;杜国同;赵涧泽;边继明;胡礼中
分类号 H01L21/477(2006.01)I 主分类号 H01L21/477(2006.01)I
代理机构 大连理工大学专利中心 代理人 侯明远
主权项 1.一种氮掺杂ZnO的受主激活方法,其特征是步骤如下:利用射频等离子体设备来对N掺杂ZnO薄膜进行处理来激活N受主杂质从而获得高质量p型ZnO薄膜的方法;将N掺杂的ZnO在N的氧化物的等离子体气氛中进行高温(500~800℃)退火处理,从而实现高质量的p型N掺杂的ZnO的制备;本发明对不同N掺杂浓度的ZnO退火,通过调节氮的氧化物气体源量、射频等离子体电源功率、退火温度及退火时间来实现不同掺杂浓度的p型ZnO薄膜的制备;(1)将低温生长的N掺杂的ZnO薄膜原位放置于衬底片托盘上;(2)当反应室真空度达到10Pa以下时,即可启动反应室的涡轮分子泵;反应室的真空度达到3×10-3Pa时,停分子泵,准备退火;(3)通入N的氧化物气体,在真空度为10Pa~80Pa时,开启射频等离子体电源,设定功率为100~450W,开始等离子体启辉放电;(4)加热N掺杂的ZnO薄膜,升温到500~800℃中某一温度点,将N掺杂的ZnO薄膜进行热处理10~60分钟;(5)退火完成后,缓慢降温到400℃以下时,关闭射频电源,关闭气体阀门,继续缓慢降到室温后即可取出处理后的N掺杂的ZnO薄膜。
地址 116024辽宁省大连市甘井子区凌工路2号