| 发明名称 | 电子天平量程校准方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种电子天平量程校准方法，包括如下步骤：a)称量并记录电子天平第一次空载读数；b)称量并记录电子天平加载已知质量砝码的读数；c)称量并记录电子天平第二次空载读数；d)根据第一、第二空载读数及加载读数求解新的灵敏度系数及零点修正系数；以及e)更新所述电子天平的灵敏度系数及零点修正系数。本发明的电子天平量程校准方法可以同时解决量程漂移及零点漂移问题，并提高校准精度。 | ||
| 申请公布号 | CN101650215A | 申请公布日期 | 2010.02.17 |
| 申请号 | CN200810041549.X | 申请日期 | 2008.08.11 |
| 申请人 | 梅特勒-托利多仪器（上海）有限公司;奥豪斯仪器(上海)有限公司 | 发明人 | 孙卫祥;J-C·埃默里;王长林 |
| 分类号 | G01G23/01(2006.01)I | 主分类号 | G01G23/01(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 陈 亮 |
| 主权项 | 1.一种电子天平量程校准方法，所述方法包括以下步骤：a)称量并记录电子天平第一次空载读数；b)称量并记录电子天平加载已知质量砝码的读数；c)称量并记录电子天平第二次空载读数；d)根据第一、第二空载读数及加载读数求解新的灵敏度系数及零点修正系数；e)更新所述电子天平的灵敏度系数及零点修正系数。 | ||
| 地址 | 200233上海市桂平路589号 | ||