发明名称 | 双向约束的二维物点与像点匹配方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种双向约束的二维物点与像点匹配方法,建立基于弱透视模型的空间平面物体的物点与像点之间的变换关系,该方法包括:提取空间平面物体图像的几何特征的边缘,得到边缘像点集合,在空间平面物体的几何特征上取点,得到物点集合;根据物点集合和边缘像点集合得到表征物点和像点变换关系的匹配矩阵;给出物点与像点变换关系的初始变化估计;根据物点集合、边缘像点集合、初始变化估计和匹配矩阵,得到物点与像点的估计变换关系,并由所得到的估计变换关系和物点集合,得到与物点集合匹配的像点集合。本发明的方法能减弱物点与像点匹配的条件限制,并且可以快速地使空间平面物体的物点和像点得以匹配。 | ||
申请公布号 | CN100590658C | 申请公布日期 | 2010.02.17 |
申请号 | CN200810167782.2 | 申请日期 | 2008.10.07 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 魏振忠;王巍;张广军;赵征;李庆波 |
分类号 | G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 张颖玲 |
主权项 | 1、一种双向约束的二维物点与像点匹配方法,其特征在于,该方法包括:a0、建立基于弱透视模型的空间平面物体的物点与像点之间的变换关系;a、提取空间平面物体图像的几何特征的边缘,得到边缘像点集合,在空间平面物体的几何特征上取点,得到物点集合;b、根据所述物点集合和边缘像点集合得到表征物点和像点变换关系的匹配矩阵;c、给出物点与像点变换关系的初始变化估计;d、根据所述物点集合、所述边缘像点集合、所述初始变化估计和所述匹配矩阵,得到物点与像点的估计变换关系,并由所得到的估计变换关系和所述物点集合,得到与所述物点集合匹配的像点集合。 | ||
地址 | 100083北京市海淀区学院路37号 |