| 发明名称 | 过程控制系统中的工业过程的自动闭环识别的设备和方法 | ||
| 摘要 | 提供用于过程控制系统中的工业过程的自动闭环识别的设备、方法和计算机程序。可识别多个模型(例如多个模型结构-模型阶数组合)，其中模型与待控制过程关联。可对于每个模型来确定一个或多个量度(例如预测量度或排序)。可根据一个或多个量度来选择这些模型中的至少一个。可提供用于控制过程的最终模型(130)(例如提供给控制器(104a-104b))，其中最终模型(130)基于该至少一个所选模型。带通滤波器可使用所识别模型中的一些来设计。带通滤波器可用于识别模型的至少另一个或者确定一个或多个量度中的至少一个。 | ||
| 申请公布号 | CN101652730A | 申请公布日期 | 2010.02.17 |
| 申请号 | CN200880011052.1 | 申请日期 | 2008.01.25 |
| 申请人 | 霍尼韦尔国际公司 | 发明人 | J·W·麦阿瑟;C·Q·詹 |
| 分类号 | G05B23/02(2006.01)I | 主分类号 | G05B23/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 朱海煜;李家麟 |
| 主权项 | 1.一种方法，包括：识别(306)多个模型结构-模型阶数组合，所述模型结构-模型阶数组合与待控制过程关联；确定(308)每个所述模型结构-模型阶数组合的一个或多个量度；根据所述一个或多个量度来选择其中至少一个所述模型结构-模型阶数组合；以及提供(314)用于控制所述过程的模型(130)，所述模型(130)基于所述至少一个所选模型结构-模型阶数组合。 | ||
| 地址 | 美国新泽西州 | ||