| 发明名称 | 半导体针孔检测仪 | ||
| 摘要 | 本实用新型所涉及的半导体针孔检测仪，它主要包括机架和电源，机架上设有遮光防擦伤托架，在遮光防擦伤托架的上侧设有灯箱，灯箱内垂直向下设有红外LED灯，遮光防擦伤托架和灯箱之间设有检测区；在遮光防擦伤托架的下侧为固定在机架上的主箱体，主箱体上盖为防尘有机玻璃，主箱体内设有一维探测器，所述的一维探测器采用半导体管作为光电转换器件，双端阳极输出电流信号，本实用新型所得到的半导体针孔检测仪，采用光电结合手段能实现针孔在生产线上的快速智能检测，检测精度和检测效率极高，能有效克服检测人员凭经验进行主观性的质量认定。 | ||
| 申请公布号 | CN201408172Y | 申请公布日期 | 2010.02.17 |
| 申请号 | CN200920118331.X | 申请日期 | 2009.04.23 |
| 申请人 | 杭州炫弘科技有限公司 | 发明人 | 李秋林 |
| 分类号 | G01N21/894(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/894(2006.01)I |
| 代理机构 | 杭州金源通汇专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 唐 迅 |
| 主权项 | 1.一种半导体针孔检测仪，它主要包括机架(1)和电源，其特征是机架(1)上设有遮光防擦伤托架(11)，在遮光防擦伤托架(11)的上侧设有灯箱(4)，灯箱(4)内垂直向下设有红外LED灯(5)，遮光防擦伤托架(11)和灯箱(4)之间设有检测区(15)；在遮光防擦伤托架(11)的下侧为固定在机架(1)上的主箱体(10)，主箱体(10)上盖为防尘有机玻璃(13)，主箱体(10)内设有一维探测器(6)，所述的一维探测器(6)采用半导体管作为光电转换器件，双端阳极输出电流信号。 | ||
| 地址 | 310012浙江省杭州市拱墅区祥园路35号8楼东-1 | ||